Transistors
Objet
Cette fiche couvre les matériaux et les technologies des transistors. Les applications sont classées en 3 grandes familles qui couvrent les principales gammes de fréquence et de puissance. Le document apporte des informations d'impacts environnementaux afin de guider les concepteurs dans la sélection de règles d'écoconception (cf. fiches opérationnelles).
1. Rappel technologique
1.1. Les matériaux de base
| Technologies | Avantages | Inconvénients | Applications | Ressources | Statut |
|---|---|---|---|---|---|
| Silicium (Si) |
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| Mature (standard mondial) |
| Germanium (Ge) |
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| Applications niches |
| Silicium-Germanium (SiGe) | Combine les avantages de Si et Ge : rapide, compatible CMOS, performances RF |
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| Ge Ressource relativement rare, mais très faible quantité utilisée | Bien établi |
| Arséniure de Gallium (GaAs) |
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| Mature pour la RF |
| Phosphure d’Indium (InP) |
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| Niche haute performance |
| Nitrure de Gallium (GaN) |
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| Ga critique, mais faible quantité utilisée | Forte croissance |
| Carbure de Silicium (SiC) |
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| Forte croissance |
1.2. Les grandes familles de transistors par gammes d'application
On peut distinguer 3 grands types d'application : les circuits basses fréquences et faibles puissances, les alimentations et circuits de puissance et les circuits radiofréquence.
1.2.1. Les circuits petits signaux, puissance moyenne, fréquences moyennes à haute
| Famille | Gamme de fréquence | Gamme de puissance | Applications typiques |
|---|---|---|---|
| BJT Si | DC à qq10 MHz | mW à 1W | Amplification analogique, instrumentation, commutation logique, oscillateurs |
| JFET Si | DC à 100kHz | mW à qq100mW | Instrumentation basse fréquence (préamplificateurs faible bruit), Applications analogiques spécialisées |
| MOSFET Si | DC à 4GHz | mW à qq100W | Instrumentation, Logique (CPLD, FPGA, microcontrôleurs, processeurs, électronique grand public |
Leviers d’écoconception pour la basse puissance :
- Optimisation des architectures
- Mutualisation de certaines fonctions lorsque cela est possible (ADC multi-entrées avec multiplexeur intégré)
- Limitation des étages d’amplification. Les Convertisseurs Analogiques-Numériques présentent des résolutions importantes qui permettent de s’adapter à de larges gammes de signaux d’entrée
- Limitation des fréquences de commutation des circuits logiques pour limiter les pertes
- Limitation des tensions d’alimentation
- Mise en œuvre des modes de veille lorsque cela est possible
- Adaptation du choix du transistor au besoin
| Critère | MOSFET | BJT | JFET |
|---|---|---|---|
| Courant de commande | Très faible | Plus élevé | Quasi nul |
| Consommation statique | Très faible | Plus importante | Très faible |
| Bruit | Bon | Bon | Excellent |
| Robustesse ESD | Plus sensible | Bonne | Moyenne |
| Applications typiques | Commutation, logique | Circuits analogiques, Amplification | Entrées haute impédance et circuits |
1.2.2. Les alimentations et circuits de puissance
| Famille | Gamme de fréquence | Gamme de puissance | Applications typiques |
|---|---|---|---|
| BJT Si | qqkHz à qq100kHz | 10mW à 200W | Alimentations linéaires, amplificateur linéaire audio |
| Si MOSFET | qqkHz à 5MHz | qqW à qq100kW | Chargeurs, Alimentations industrielles, Onduleurs, véhicules électriques |
| IGBT Si | qqkHz à qq10kHz | qqkW à plusieurs MW | Alimentations industrielles, Variateurs de vitesse, Traction ferroviaire, Onduleurs photovoltaïques, Eoliennes, réseaux électriques |
| SiC JFET | 20kHz à qq100kHz | 100W à qq10kW | Alimentations à découpage AC/DC et DC/DC Onduleurs Solaires (Transition entre Si et SiC) |
| SiC MOSFET | DC à 500 kHz | 1 kW à plusieurs MW | Véhicules électriques, bornes de recharge, convertisseurs industriels, aéronautique |
| GaN HEMT (Power) | 100 kHz à 10 MHz | 1 W à 10 kW | Chargeurs rapides, convertisseurs compacts, alimentations haute densité |

Power device application fields(From https://www.shindengen.com/))
Leviers d'écoconception :
- Ne pas surdimensionner la tension de claquage pour limiter la résistance de canal: un 100V sur un bus 12V a un RDSon 5 à 10fois supérieur à un 30V. La règle "doubler la tension nominale" est souvent excessive. Calculer la surtension réelle en transitoire et appliquer une marge de 1.5 à 1.7
- Monter en fréquence pour réduire la taille des composants passifs, inductance et condensateurs de filtrage. Un facteur x10 sur la fréquence de découpage correspond à une réduction d'un facteur proche de 10 sur la valeur de l'inductance. Le GaN et le SiC permettent une montée en fréquence au delà des limites du MOS. Vérifier sur un cycle complet le bilan de puissance pour s'assurer que les pertes sont compensées par la réduction des passifs.
- Pour le pilotage de grille, 3 réglages sont à considérer :
- Valeur de la résistance Rg : Plus la résistance de grille est faible, plus la commutation est rapide et les pertes faibles. Mais le dV/dt résultant augmente, il faut s'assurer d'être compliant au niveau CEM
- Commutation douce : commutation à tension nulle (Zero Volage Switching) ou a courant nul (Zero Current Switching). Elle permet une réduction des pertes en commutation de 50 à 90%. C'est le levier le plus efficace si la topologie le permet.
- Réglage du temps mort (Dead Time): le minimiser permet de limiter les pertes dans la diode de corps (Si) ou dans le canal en conduction inverse (GaN).
- Thermique et durabilité : un composant moins soumis à la température dure plus longtemps. Une baisse de 10°C correspond environ à une durée de vie multipliée par 2 (loi d'Arrhenius). Préférer les boitiers à faible résistance thermique (Rthj-c) comme les QFN, LGA et Flip-Chip pour réduire la température de jonction et la taille du dissipateur.
La table suivante présente un comparatifs de performance thermique de différents boitiers de transistors de puissance usuels:
| Boîtier | Montage | Rth JC (°C/W) | Rth JA JEDEC (°C/W) | Tech. compatibles | Note |
|---|---|---|---|---|---|
| TO-220 | Traversant | 1 – 3 | 60 – 70 | Si, SiC | Référence classique, montage vis ou pince |
| TO-220F | Traversant | 5 – 10 | 65 – 75 | Si | Version isolée (drain isolé du tab) |
| TO-247 | Traversant | 0,3 – 1 | 40 – 50 | Si, SiC | Haute puissance, montage vis |
| TO-247-4L | Traversant | 0,3 – 1 | 40 – 50 | Si, SiC, GaN | 4e broche Kelvin source — réduit l'inductance de la boucle de grille |
| TO-263 (D2PAK) | CMS | 1 – 3 | 40 – 60 | Si, SiC | Équivalent CMS du TO-220 |
| TO-252 (DPAK) | CMS | 2 – 5 | 50 – 80 | Si | Version réduite du D2PAK |
| TOLL (TO-Leadless) | CMS | 0,5 – 1,5 | 35 – 50 | Si, SiC | Bon Rth, broche Kelvin souvent disponible |
| LFPAK88 (8×8 mm) | CMS | 0,5 – 1,5 | 30 – 45 | Si | Nexperia — pad thermique large, faible inductance |
| LFPAK56 (5×6 mm) | CMS | 1 – 3 | 40 – 60 | Si | Version compacte LFPAK |
| PowerPAK SO-8 | CMS | 2 – 5 | 40 – 60 | Si | Vishay — pad thermique exposé en dessous |
| QFN 8×8 mm | CMS | 0,5 – 1,5 | 25 – 40 | GaN, Si | Excellent Rth avec vias thermiques denses |
| QFN 6×6 mm | CMS | 1 – 3 | 30 – 50 | GaN, Si | Standard GaN Systems, Navitas, EPC |
| QFN 3×3 mm | CMS | 5 – 15 | 60 – 100 | GaN faible puissance | À réserver aux puissances < 5 W |
| LGA (bottom-cooled) | CMS | 0,3 – 1 | 20 – 35 | GaN, SiC | Meilleure option thermique si vias thermiques — pas de leads, tout par le pad |
| DirectFET / clip | CMS | 0,15 – 0,5 | 15 – 30 | Si (Infineon, IR) | Refroidissement double face possible |
| DFN | CMS | 1 – 5 | 30 – 60 | GaN | Proche QFN, dimensions variables |
| SOT-223 | CMS | 10 – 20 | 60 – 100 | Si faible puissance | À éviter au-delà de 2–3 W sans dissipateur PCB |
| Module (base DCB) | Module | 0,05 – 0,3 | — | Si, SiC, GaN | Rth JC inclut le substrat céramique — Rth JA non applicable, refroidissement forcé standard |
A noter:
- Rth JA JEDEC = valeur sur carte test standard (naturelle convection, pad minimal). Sur un design avec vias thermiques optimisés sous le pad, Rth JA peut être réduit de 30 à 60 %.
- Le paramètre utile pour le calcul de Tj est Rth JC — pas Rth JA. Rth JA sert surtout à comparer les boîtiers entre eux en l'absence de dissipateur.
Ce que ça implique concrètement
Pour réduire la taille du dissipateur (moins de matière), l'ordre de préférence thermique est : LGA/DirectFET > QFN 8×8 > LFPAK88 > TOLL > TO-247 > D2PAK > TO-220. Les boîtiers traversants ont un Rth JC convenable mais leur embase nécessite un isolant thermique si le tab est au potentiel drain — ce qui dégrade Rth effectif de 0,5 à 2 °C/W selon l'isolant.
Pour GaN spécifiquement, le QFN ou LGA est quasi systématique — les boîtiers traversants restent rares sur les références récentes (sauf TO-247-4L sur certains SiC-GaN).
1.2.3. Les circuits radiofréquences
| Famille | Gamme de fréquence | Gamme de puissance | Atouts | Applications typiques |
|---|---|---|---|---|
| BJT Si | qqMHz à 1.5GHz | 1W à 500W | Faible cout et maturité | RF basse fréquence et basse puissance : Emetteur FM, Radioamateurs, Avionique et militaire (fin de cycle de vie) |
| RF LDMOS | 100 MHz à 4GHz | 10W à 2kW | Rendement en puissance, maturité industrielle | Stations de base cellulaires, diffusion TV/FM, radar basse fréquence |
| GaAs pHEMT | 1GHz à 100GHz | qq100mW à qq10W | Faible bruit, haute fréquence | Amplificateurs faible bruit (LNA), amplificateur de puissance microondes, satellites |
| GaN HEMT (GaN-on-SiC) | 1GHz à 100GHz | 1W à 1kW | Très forte densité de puissance | Amplificateurs Radars à antenne active (AESA), 5G/6G, application militaires |
| SiGe HBT | qq100MHz à 300GHz | mW à qq10W | Encore utilisé pour ses très performances RF | Interconnexions rapides, Radars (anticollision (77GHz) et précision (120GHz, 240GHz)), analyse non destructive |
| InP HEMT | 10GHz à 300GHz | 10mW à 2W | Très faible bruit, très haute fréquence | LNA pour récepteurs satellites et communications spatiales, Circuits térahertz mélangeurs, oscillateurs…) |
| InP HBT | 10GHz à >300GHz | 10mW à 1W | Très haute vitesse | Communications optiques (émetteurs, oscillateurs, multiplexeurs…), liaisons radio très haut débit, radars pour le militaire, Instrumentation RF |
Note : Les technologies GaAs MESFET et SiC MESFET sont maintenant largement remplacées par les technologies GaAs pHEMT (pour le GaAs MESFET) et GaN HEMT (SiC MESFET)

Puissance de sortie et gamme de fréquences pour différentes technologies de transistor RF. (Adaptation de données fabricants)
Pour les applications RF, les performances (puissance, rendement, bruit, fréquence de fonctionnement, linéarité) sont fortement dépendantes de la technologie du transistor. Les impacts sont non seulement liés à la consommation électrique mais aussi à la fabrication des matériaux semiconducteurs (GaAs, GaN, InP, SiGe).
Leviers d'écoconception :
- Adapter la technologie au besoin (fréquence de transistion, gamme de puissance...)
- Limiter la puissance émise au strict besoin
- Mise en veille des étages et des voies inutilisées
- Réduire les pertes passives (pertes en ligne, perte des substrats, pertes des réseaux d’adaptation…)
Note: table des abréviations
| BJT | Bipolar Junction Transistor |
|---|---|
| JFET | Junction Field Effect Transistor |
| MOSFET | Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor |
| Thyristor | Interrupteur commandé symbolisé par 2 transistors (NPN et PNP) interconnectés |
| IGBT | Insulated Gate Bipolar Transistor |
| LDMOS | Laterally-Diffused Metal Oxide Semiconductor |
| MESFET | Metal Semiconductor Field Effect Transistor |
| HBT | Heterojunction Bipolar Transistor |
| HEMT | High Electron Mobility Transistor |
| pHEMT | Pseudomorphic High Electron Mobility Transistor |
| MESFET | Metal Semiconductor Field Effect Transistor |
2. Aspects environnementaux
Le tableau ci-après compare le contenu typique en matériaux des transistors. Il rapporte les déclarations de matériaux de 3 exemples de références de transistors. En orange, les matières premières critiques (CRM) sont mises en évidence.
Synthèse des ACV cradle to gate d'un transistor (ventilation des impacts par matériau)
- (à valider pour l'ensemble des fiches composants) précision de l'influence du transistor sur l'impact environnemental du système complet (par typologie de produits) (influence faible, moyenne, forte) ==> sous forme de tableau
| Typologie 1 | Typo 2 | Typo 3 | Typo 4 | Typo n | |
|---|---|---|---|---|---|
| Influence du transistor sur l'impact du système complet |
| Moyen | Faible | forte | ... |
3. Synthèse pour l'écoconception
⟦À COMPLÉTER — fond⟧ Corps de synthèse (arbitrages usage/fabrication, matières premières, fin de vie) à rédiger par le relecteur. Les leviers détaillés figurent au §1 sous chaque famille (renvois ci-dessous).
Critères de sélection d'un transistor dans une démarche d'éco-conception
Voir aussi la fiche : Topologies d'alimentation
Recommandations d'écoconception
- Petits signaux / basse puissance — voir les leviers d'écoconception au §1.2.1.
- Alimentations et circuits de puissance — voir les leviers d'écoconception au §1.2.2.
- Circuits radiofréquences (RF) — voir les leviers d'écoconception au §1.2.3.
4. CheckList
| N° | Axe d'éco-conception | Recommandation | Lien vers la source | Priorité |
|---|---|---|---|---|
| 1 | Choix des matériaux | Le transistor retenu est-il fabriqué sans matières premières critiques (CRM) — notamment sans GaAs, GaN, InP ou SiC — lorsque les contraintes de performance (tension, fréquence, température) le permettent ? | §1 — Rappel technologique | Haute |
| 2 | Choix des matériaux | Si la fonction exige un transistor GaN ou SiC (haute tension, haute fréquence), a-t-on vérifié qu'une solution MOSFET Si ou IGBT ne suffirait pas au regard du cahier des charges (V_BR, f, Tj) ? | §1 — Rappel technologique | Haute |
| 3 | Choix des matériaux | A-t-on écarté les technologies à substrat InP ou GaAs (MESFET/HEMT, HBT) au profit de SiGe BiCMOS ou MOSFET Si chaque fois que la performance RF n'exige pas fT > 300 GHz ? | §1 — Rappel technologique | Moyenne |
| 4 | Choix des matériaux | Pour la typologie de produit concernée, a-t-on vérifié le niveau d'influence du transistor sur l'impact environnemental du système complet (faible / moyen / fort) avant d'approfondir l'optimisation ? | §2 — Aspects environnementaux | Moyenne |
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